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高低溫沖擊試驗(yàn)箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber




高低溫沖擊試驗(yàn)箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber簡(jiǎn)介：本試驗(yàn)箱適用于考核產(chǎn)品（整機(jī)）、元器件、零部件等經(jīng)受溫度急劇變化的能力，該溫度沖擊試驗(yàn)?zāi)軌蛄私庠囼?yàn)樣品一次或連續(xù)多次因溫度變化而帶來(lái)的影響。影響溫度變化試驗(yàn)的主要參數(shù)為溫度變化范圍的高溫和低溫溫度值、樣品在高溫和低溫下的保持時(shí)間、以及試驗(yàn)的循環(huán)次數(shù)等因素。

高低溫沖擊試驗(yàn)箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber技術(shù)參數(shù)

型號(hào)	單位	TS-60	TS-120	TS-120P	TS-300	TS-300P
測(cè)試空間容積	L	60	120	120	300	300
移動(dòng)提籃最大負(fù)載	Kg	20	50	50	100	100
實(shí)驗(yàn)空間尺寸，高（H）×寬（W）×深（D）	mm	370x380x430	410x470x650	410x470x650	610x770x650	610x770x650
熱箱溫度范圍	℃	+50 至 +220	+50 至 +220	+50 至 +220	+50 至 +220	+50 至 +220
冷箱溫度范圍	℃	-80至 +70	-80至 +70	-80至 +70	-80至 +70	-80至 +70
熱箱升溫速率	K/min	17	14	18	11	23
冷箱降溫速率1	K/min	3.7	6.3	7.5	5.0	12.0
冷箱升溫速率，單箱操作1	K/min	3.7	2.0	2.0	1.5	1.5
溫度波動(dòng)度2	K	±0.3 至±1.0	±0.3 至±1.0	±0.3 至±1.0	±0.3 至±1.0	±0.3 至±1.0
溫度均勻性3	K	±0.5 至±2.0	±0.5 至±2.0	±1.0至±2.0	±0.5 至±2.0	±1.0至±2.0
熱/冷箱轉(zhuǎn)換時(shí)間	sec	＜10	＜10	＜10	＜10	＜10
恢復(fù)時(shí)間-溫度變化測(cè)試	min	＜154	＜155	＜126	＜157	＜158
熱箱校準(zhǔn)值9	℃	+125	+125	+125	+125	+125
冷箱校準(zhǔn)值9	℃	-40	-40	-40	-40	-40

¹根據(jù)IEC 60068-3-5.通過(guò)選擇提升/降低熱箱/冷箱溫度來(lái)提高溫度變化速率.

²有效測(cè)試空間中心點(diǎn)。

³基于設(shè)置點(diǎn):溫度范圍-65℃ to +200℃

⁴MIL-STD-883E，方法 1010.9，強(qiáng)度級(jí) D，4.5 kglCs 分布于2個(gè)樣品架內(nèi)，樣品內(nèi)測(cè)量.

⁵MIL-STD-883J，方法 1010.9，強(qiáng)度級(jí) D，12 kglCs 分布于3個(gè)樣品架內(nèi)，樣品內(nèi)測(cè)量.

⁶MIL-STD-883F，方法1010.9，強(qiáng)度級(jí) D，20 kgCs 分布于3個(gè)樣品架內(nèi)，樣品內(nèi)測(cè)量.

⁷MIL-STD-883J，方法 1010.9，強(qiáng)度級(jí) F，25 kg lCs 分布于3個(gè)樣品架內(nèi)，樣品內(nèi)測(cè)量.

⁸MIL-STD-883 F，方法 1010.9，強(qiáng)度級(jí) F，50 kglCs 分布于3個(gè)樣品架內(nèi)，樣品內(nèi)測(cè)量.

⁹出廠計(jì)量.